# Koşullu difüzyon modeli, odaklanmış iyon demeti üretimindeki değişkenliği öngörüyor

> Southampton Üniversitesi araştırmacıları, odaklanmış iyon demetiyle üretilen mikro ve nanoyapıların tek bir sonuç yerine olası sonuç dağılımını tahmin eden bir difüzyon modeli geliştirdi. Model, 100 tasarım ve taramalı elektron mikroskobu görüntüsünden oluşan eşleştirilmiş örneklerle eğitildi.

- Kalıcı adres: https://newsverum.com/tr/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026
- Yayıncı: Newsverum
- Bölüm: Bilim
- Ülke: Birleşik Krallık
- Yayın: 2026-10-13T01:40:12+00:00
- Güncelleme: 2026-10-13T01:40:12+00:00
- Kaynak inceleme dönemi: 2026-10-09
- Diğer sürümler: [English](https://newsverum.com/en/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md), [العربية](https://newsverum.com/ar/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md), [Français](https://newsverum.com/fr/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md), [Español](https://newsverum.com/es/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md), [Deutsch](https://newsverum.com/de/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md), [Português](https://newsverum.com/pt/news/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026.md)

*Kaynak olay tarihini belirtmiyor; gösterilen dönem kaynak incelemesinin dönemidir.*

Odaklanmış iyon demetiyle frezeleme sırasında ışın akımı dalgalanması ve yeniden birikme gibi etkiler, aynı tasarımın tekrarlanan üretimlerinde farklı kenar ve çizgi ölçüleri oluşturabiliyor. Ekip, ikili tasarım maskesini girdi olarak alan koşullu bir difüzyon modeliyle tek bir tahmin yerine olası taramalı elektron mikroskobu görüntüleri kümesi üretti.

Model, altın film üzerindeki çizgi hendeklerinin ölçülen genişlik dağılımını ve yönle ilişkili kusur davranışını deney sonuçlarına yakın biçimde yeniden üretti. Ancak dar hendeklerin ışın tarama çizgilerine paralel olduğu durumda üretim çoğunlukla başarısız oldu. Bulgular 100 eşleştirilmiş eğitim örneğine ve sınırlı test geometrilerine dayanıyor; yöntem üretim toleranslarını incelemek için bir araştırma aracı, doğrulanmış bir üretim garantisi değil.

## Veriler

### Çalışmada bildirilen ölçümler

Tablo yalnızca bu çalışmanın deney veya model kapsamındaki bildirimlerini verir.

Yöntem: Miktar ve kapsam, arXiv’de 9 Ekim 2026 tarihli ilk sürümün yöntem ve sonuç bölümlerinden alınmıştır; çalışma dışına genellenmemelidir.

| Çalışmada bildirilen miktar | Değer | Çalışmaya özgü kapsam |
|---|---|---|
| Eğitim verisindeki eşleştirilmiş maske ve örnek görüntüleri | 100 | Odaklanmış iyon demetiyle altın film işleme deneylerinden 100 tasarım/SEM görüntüsü çifti; model çıktıları üretim sonucu olarak değil benzetim olarak değerlendirilmiştir. |

Kaynaklar: <https://arxiv.org/abs/2610.13420> · Veriyi indir: [JSON](https://newsverum.com/api/v1/articles/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026/data/study-measurements?lang=tr&format=json) · [CSV](https://newsverum.com/api/v1/articles/conditional-diffusion-model-predicts-fib-nanofabrication-variance-2026/data/study-measurements?lang=tr&format=csv)

## Kaynaklar

- [arXiv](<https://arxiv.org/abs/2610.13420>) (Kaynak kontrolü: 2026-10-13; Yayın: 2026-10-09)

---

Alıntı için yukarıdaki kalıcı adresi kullanın. [Yayın ilkeleri ve düzeltmeler](https://newsverum.com/tr/editorial)