# Teradyne lance un testeur de semi-conducteurs à 24 emplacements pour l’IA en périphérie

> L’UltraFLEXplus S24 est conçu pour les tests d’ingénierie et de production dans la fabrication de puces variées, y compris pour l’IA en périphérie.

- URL canonique: https://newsverum.com/fr/news/teradyne-edge-ai-semiconductor-tester-october-2026
- Éditeur: Newsverum
- Rubrique: Technologie
- Pays: États-Unis
- Publié: 2026-10-12T23:33:39+00:00
- Mis à jour: 2026-10-12T23:33:39+00:00
- Période de l’événement / des données: 2026-10-12
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Teradyne a annoncé la série UltraFLEXplus S le 12 octobre et présenté le S24 comme premier modèle. Ce système de test de semi-conducteurs à 24 emplacements est conçu pour l’ingénierie et la production dans des fabrications à forte diversité et volumes variables.

L’entreprise indique que la plateforme prend en charge les microcontrôleurs, le multimédia et les appareils d’IA en périphérie dans les marchés automobile, industriel et grand public, y compris des tests à trois températures. Elle partage les modules, l’environnement logiciel et la bibliothèque de programmes de test de la plateforme UltraFLEXplus Q de Teradyne; il s’agit de spécifications de l’entreprise, pas de résultats de performance chez des clients.

## Données

### Annonce de l’UltraFLEXplus S24

Teradyne a présenté sa série S à 24 emplacements pour tester les semi-conducteurs, dont les appareils d’IA en périphérie.

Méthodologie: L’annonce repose sur le communiqué de Teradyne du 12 octobre 2026. La capacité et les applications sont des caractéristiques du produit annoncées par l’entreprise, pas des résultats de tests indépendants.

| date | label | description | status |
|---|---|---|---|
| 2026-10-12 | Teradyne a annoncé la série UltraFLEXplus S | Le premier modèle, le S24 à 24 emplacements, est conçu pour les tests d’ingénierie et de production. | occurred |

Sources: <https://investors.teradyne.com/news-events/press-releases/detail/453/teradyne-introduces-ultraflexplus-s-series-for-edge-ai-applications> · Télécharger les données: [JSON](https://newsverum.com/api/v1/articles/teradyne-edge-ai-semiconductor-tester-october-2026/data/ultraflexplus-s24-launch?lang=fr&format=json) · [CSV](https://newsverum.com/api/v1/articles/teradyne-edge-ai-semiconductor-tester-october-2026/data/ultraflexplus-s24-launch?lang=fr&format=csv)

### Capacité de l’UltraFLEXplus S24

Nombre d’emplacements du système de test de semi-conducteurs annoncé.

Méthodologie: Les 24 emplacements sont une spécification produit; aucun débit n’est déduit.

| label | value | unit | period | basis |
|---|---|---|---|---|
| Nombre d’emplacements de l’UltraFLEXplus S24 | 24 | count | 2026-10-12 | observed |

Sources: <https://investors.teradyne.com/news-events/press-releases/detail/453/teradyne-introduces-ultraflexplus-s-series-for-edge-ai-applications> · Télécharger les données: [JSON](https://newsverum.com/api/v1/articles/teradyne-edge-ai-semiconductor-tester-october-2026/data/teradyne-s24-capacity?lang=fr&format=json) · [CSV](https://newsverum.com/api/v1/articles/teradyne-edge-ai-semiconductor-tester-october-2026/data/teradyne-s24-capacity?lang=fr&format=csv)

## Sources

- [Teradyne, Inc.](<https://investors.teradyne.com/news-events/press-releases/detail/453/teradyne-introduces-ultraflexplus-s-series-for-edge-ai-applications>) (Source vérifiée: 2026-10-12; Publié: 2026-10-12)

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Citez l’URL canonique ci-dessus. [Principes éditoriaux et corrections](https://newsverum.com/fr/editorial)
